一、产品说明
产地：韩国 
公司：Korea Materials&Analysis Corp
类型：基础研究型
说明：ST2000是把钨-卤光源(Tungsten-Halogen Light Source)发出的光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。
二、产品特性

  操作简单、非专业人士也可操作
  采用光学原理测量、对被测样品不会造成任何损坏
  非接触式测量、测试过程简单快捷、无需为测试对样品进行加工
  支持多层同时测试（1-3层）
  专门为基础研究开发、结构精简、价格低廉
  外型采用Table Top型, 适用于大学实验室,研究所等
  多功能：可获得薄膜的厚度和光学常数，如折射系数（n）和消光系数（k ）数据。
  测量值精确度高
  根据用途可自由选择手动型或自动型。
三、工作原理
两束反射光（光线1和光线2）的叠加作用，导致在白光的光谱范围内产生相长干涉和相消干涉现象。利用这种叠加现象可以通过计算得到薄膜的厚度（t）和光学常数，例如折射系数（n）和消光系数（k）。




四、产品型号/规格 
Stage Size  150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance)
Measurement Range  150Å~ 35μm(Depends on Film Type)
Spot size  20μm Typically
Measurement Speed  1 sec/site Typically
Application Areas
   Polymers : PVA, PET, PP, PR ...
Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 ..
Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
*Supporting up to 3 Layers
*Supporting Backside Reflection
Head  Trinocular Head
Nosepiece  Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
Total Magnification  40X ~ 500X
Type of Illuminati  12v 20W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transform