Planum-3000
反射率透过率全自动光学光谱仪
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
类别
I型
II型
III型
探测器
Sony ILX511 x线形CCD 阵列
Sony ILX511 x线形CCD 阵列
Hamamatsu S7031背照式2D-CCD
检测范围
380-1000nm
380-1100nm
360-1100nm
波长分辨率
<1.35nm
<1.35nm
<1.35nm
信噪比（全信号）
250：1
250：1
1000：1
相对检测误差
<0.6%(400-800nm)
<0.6%(400-800nm)
<0.2%(400-800nm)
操作方式
手动
电动
电动
角度分辨率
0.1 &ordm;
<0.0002&ordm;
<0.0002&ordm;
重复定位精度：
-
<0.005 &ordm;
<0.005 &ordm;
旋转最大速度:
-
25 &ordm;/s
25 &ordm;/s
透/反射测量角
>8&ordm; ， <80 &ordm;,可扩展到5&ordm;
单次测量时间
<100ms
S/P光测量
可以
样品尺寸
>5mm
操作系统/接口
Windows XP Vista /USB2.0
产品尺寸
1020mm*485mm*300mm
功率/电源：
100W/220V-50HZ
其他
可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库
Wilson 陈先生 15013154398
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